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PIEZOSYSTEM XY軸位移臺 測量實驗室及產(chǎn)品簡介： PIEZOCONCEPT LF2.100 µm 位移臺（又稱 PIEZOCONCEPT LF2.100）是一種高精度的位移控制設(shè)備，通常用于實驗室、科研和工業(yè)自動化等領(lǐng)域，

SONASCREEN 2 攝像機聲學(xué)測量設(shè)備及產(chǎn)品簡介： SONAPHONE 數(shù)字超聲波測試設(shè)備，頻率范圍 150 Hz - 128 kHz，5 英寸 TFT 顯示屏，帶多點觸控控制器。

Janitza 通用測量設(shè)備 變壓器及產(chǎn)品簡介： Janitza UMG 103-CBM 是一種通用測量設(shè)備，用于低壓配電系統(tǒng)中的頂帽導(dǎo)軌安裝，用于測量和檢查配電系統(tǒng)中的電氣參數(shù)。它測量高達(dá) 40 次諧波的諧波。

Janitza 三相電表互感器測量及產(chǎn)品簡介： Janitza 單相電表和三相電表均可直接測量。三相儀表也可以通過電流互感器測量更大的電流范圍。

Janitza 數(shù)據(jù)采集功率分析儀器及產(chǎn)品簡介： Janitza 模塊化可擴展功率分析儀 UMG 96 PQ-L，通過插入式擴展模塊，該器件可以通過以太網(wǎng)接口、2 個差分電流輸入、一個溫度輸入和第 4 個電流輸入快速輕松地進(jìn)行擴展。

POLOS 系列 光譜測量儀及產(chǎn)品簡介： FR-pRo 是一個模塊化和可擴展的平臺，用于表征 1 nm - 1 mm 厚度范圍內(nèi)的涂層。FR-pRo 工具根據(jù)客戶需求量身定制，用于各種不同的應(yīng)用，例如：吸光度/透射率/反射率測量、溫度和環(huán)境受控環(huán)境甚至液體環(huán)境中的薄膜表征等等。

POLOS 實時光譜測量裝置用于研究所及產(chǎn)品簡介： polos 單點測量裝置微型化解決方案，用于對透明和半透明的單層薄膜或薄膜堆疊進(jìn)行精確和精確的非破壞性層厚測量。保證高度準(zhǔn)確和可重復(fù)的測量。

POLOS 用于半導(dǎo)體上的單點測量裝置及產(chǎn)品簡介： polos 單點測量裝置微型化解決方案，用于對透明和半透明的單層薄膜或薄膜堆疊進(jìn)行精確和精確的非破壞性層厚測量。保證高度準(zhǔn)確和可重復(fù)的測量。